产品名称:

   
BeamProfiler2321光束分析仪
产品介绍:
   
Model2321-CCD 数组传感器不含可变衰减器 
许多 CCD 相机都是为成像设计的,它们都不能为激光束的精确测量提供保证。但 Photon 公司提供的两种硅质 CCD 照相系统,是为激光束的设计和测量而专门设计的,相机经过测试和校准能提供的精度仅仅受限于 CCD 像素阵列的固有特性。 Photon 公司的 Model 2320 和 2321 照相系统能保证在操作灵敏度的范围内提供至少 2.8% 的精度。另外, Photon 公司的 Model 2320 相机的外形设计的小巧而便捷,里面有一个连续可调的衰减器。
    激光光束分析仪包括 3 个主要部件:激光传感器、图片采集卡和软件。激光传感器是由包含硅检测器阵列和可变衰减器在内的紧凑型测量探头构成。也可采用某些某些不同的阵列。其单位输出量为标准视频 (RS170 or CCIR) 。每个光学元件和激光传感器的机械设计都已经优化过,并可精确进行光束宽度测量、连续波测试分析和脉冲激光测试。
    图片采集卡是为了采集光束分析仪传感器头上的视频数据。许多采集卡都适用,但是如果想要尽可能的达到最高精确度,我们建议使用 PCI 总线的帧采集卡。
    光束分析仪系统的核心就是光束分析仪的软件,它适用于 Windows 95/98 and NT 。主界面上就有将简单资料可视化和进行复杂光束分析的工具。软件将通过对特定区域的设定 —— 用户自定义或系统设置,提供精确的数据分析。量化的光束的空间特性就可以被测量到了。
应用范围:
   • 激光束的设计和测量
   • 波长范围: 190 nm - 1100 nm
   • 可测量光束尺寸: 50 μm - 8 mm

优势 / 特点
   1. 光束测量到 ISO 标准 50 μm (1/e 2 );
   2. 紧密型传感头内置可变衰减器

特性包括 :

  • 光束宽度

  • 质心和峰值位置

  • 极大和极小轴

  • 光束定位

  • 椭圆率

  • 离心率

  • 1D 和 2D 高斯拟合

  • 光束样式

  • 光束发散性

  • 光斑稳定性

  • M2

  • K 因子

  • 更多 ……

合格 / 不合格的标准将会应用在这些参数上。数据可在电子数据表、统计分析软件和仪器控制软件上进行输出
 


NanoScan
扫描式高精度激光光束分析仪
高分辨率激光光束质量分析仪
高功率激光光束质量分析仪
NanoModeScan M2测量仪
Rayleigh Range Fixture

BeamScan
扫描式激光光束分析仪

BeamScanXYVLAGE光束分析仪
BeamScanXYPREC光束分析仪
BeamScanXYM光束分析仪
GRIN光纤准直仪(Model 55)

BeamProFiler

激光光束分析仪
BeamProfiler2320光束分析仪
BeamProfiler2321光束分析仪
ATP-SM可变衰减器
动态光束分析仪
滚筒分析仪
FO 8350-光纤环形通量测试仪
UView-2322光束分析仪
PH 7290-ElectroPhysics
ModeScan Model 1780
FireWire BeamPro
USBeamPro激光光束质量分析仪
ATP-K可调衰减器和高功率衰减器

远场轮廓仪/角度辐射计(红外)
LED测量仪
LD8900远场分析仪
LD8900SA单轴远场分析仪
LD8900R远场分析仪
LD8900HDR高动态远场分析仪
FO8350光纤环形通量分析仪

近场分析仪
基于相机的近场分析仪
NanoScan近场分析仪


 

其它代理厂商



详细技术参数及说明书点击此处右键'另存为'下载


 
版权所有© 北京高光科技有限公司
地址:北京海淀区长春桥路11号亿城大厦C1座(4号楼)303室
邮编:100089;电话:010-58816816/7;传真:010-58816819;E-mail: cl@clight.com.cn