产品名称:
    UView- 2322光束分析仪
产品介绍:
    Uview 分析仪集成了高紫外线激光监控器，用于测量在紫外波长范围内的脉冲源或连续波动源（从 157nm-390nm ）。这是第一个保证空间均匀度为 ±3% 、孔径为 60um 的紫外阵列传感器。 入口狭缝是 18mm X 22mm . Uview 通过 手动光圈进行 光极／亮度的调节。它和 Photon Inc.BeamProfilerTM 激光光束分析系统搭配使用就可以用于其他ＲＳ１７０兼容系统。
光学规格 :
   入口孔径 : 18 x 22 mm; 有可选大孔径
   解析度 : 60 μm; 更大的适用于大孔径
   波长响应 : <157 -390 nm
   转换板空间均匀度大于 3%
   系统空间均匀度 : ±3%
   损害影响 e: >100mJ/cm2 @ l =248nm,200Hz repetitionrate   
   系统饱和量 : ~100μJ/cm2 @ l =337nm (IRIS FULLY OPEN)
   透镜放大率 : 0.253

CCD 阵列 :
    帧频 RS170 30 Hz
    活化像素 768 (H) x 494 (V)
    像素空间 8.4 μm (H) x 9.8 μm (V)
    阵列尺寸 4.8 mm (H) x 6.4 mm (V)
    动态范围 : >150:1
  

电子规格：
   功率 : 12 VDC @ 500 mA
   Switchcraft TA 3F 接头
   标准 : 供应 115 VAC 壁挂式电源
   可选配件 : 供应 230 VAC 壁挂式 电源 / 指定插头
   视频输出 : RS170
   BNC 同轴线接插件
   信号电缆 : RG59 75 Ohm Coaxial Cable

机械规格：
   尺寸 (cm): 19.1 cm x 5.4 cm x 4.9 cm
   装备 : 3 方位 : 标准 l -20  螺纹 ; 可选 M6 适配器
   温度范围 : -20 to 60° C (4 to 140° F), 不凝固

近场分析仪
基于相机的近场分析仪
NanoScan近场分析仪


　

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