产品名称：
    LD8900远场分析仪
产品介绍：
    LD8900远场分析仪专用于测量角度辐射光源的强度，直接实时测量远场的动态范围高于24dB，角度采样分辨率为0.055°，角度扫描范围为+/-72°（144°）。是测量多种光源的光辐射通量的理想工具，包括垂直腔面发射激光器，激光二极管，光纤和光波导等。可以对远场进行三维测量，具有比CCD更高的分辨率。
    LD8900远场分析仪可以采用硅探测器（工作波长320-1100nm）或者铟镓砷探测器（工作波长800-1700nm），有标准的2毫米宽度的入射光狭缝，对于大光源，像发光二极管或激光二极管阵列等，可以采用10毫米宽度的入射光狭缝。是激光二极管、光纤等产品研发、工业生产及应用中的标准测量工具。
    LD8900用于测量数值孔径、漫透射体的散射图样、光波导、光路中元件的影响（比如棱镜，滤波器，波导）、带尾纤的光源、单模和多模光纤；用于优化光纤、腔体、透镜、探测器、波导阵列、色散补偿器件、波分复用和解复用、其它光学器件的能量耦合。

近场分析仪
基于相机的近场分析仪
NanoScan近场分析仪

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