产品名称：
    LD8900SA单轴远场分析仪
产品介绍：
   　LD8900SA单轴远场分析仪专注于测量有角度辐射的光源的强度。可以提供24dB动态范围的直接实时远场测量，角度采样分辨率为0.055°，角度测量范围为+/-72°（144°），是测量多种光源光辐射通量的理想工具，包括垂直腔面发射激光器，激光二极管，光纤和光波导等。可以对远场进行快速测量，精度远远高于CCD相机。
　　LD8900SA单轴远场分析仪可以采用硅探测器（工作波长320-1100nm）或者铟镓砷探测器（工作波长800-1700nm），有标准的2毫米宽度的入射光狭缝，对于大光源，像发光二极管或激光二极管阵列等，可以采用10毫米宽度的入射光狭缝。是激光二极管、光纤等产品研发、工业生产及应用中的标准测量工具，可以升级到全三维测量。
　　LD8900SA单轴远场分析仪可用于激光二极管、光波导、发光二极管、单模和多模光纤、光栅、滤波器、显示介质、带尾纤光源的测量，测量参数包括：数值孔径，模场直径，发散角，远场分布等。主要应用包括发散光源和其它光学元件的耦合测量，激光二极管、液晶显示、波导和光纤的质量评估，发散光源的远场分析。

NanoScan
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高功率激光光束质量分析仪
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Rayleigh Range Fixture

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扫描式激光光束分析仪
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BeamScanXYPREC光束分析仪
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激光光束分析仪
BeamProfiler2320光束分析仪
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ATP-K可调衰减器和高功率衰减器

远场轮廓仪/角度辐射计(红外)
LED测量仪
LD8900远场分析仪
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LD8900R远场分析仪
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FO8350光纤环形通量分析仪

近场分析仪
基于相机的近场分析仪
NanoScan近场分析仪

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