产品名称：
    LD8900R远场分析仪
产品介绍：
    LD8900R远场分析仪专用于测量有角度辐射的光源的强度。可以提供高于36dB动态范围的直接实时远场测量，角度采样分辨率为0.055°，角度测量范围为+/-72°（144°）。是测量多种光源的光辐射通量的理想工具，包括垂直腔面发射激光器，激光二极管，光纤和光波导等。可以对远场进行全三维测量，具有比CCD更高的分辨率。
　　LD8900R除了具有LD8900的所有性能外，还可提供更高的动态范围（36dB），高动态范围可以对远场分布的远端进行详细的分析和测量。对于普通的10um单模光纤，LD8900R可以提供5％的模场直径实时测量精度。
　　LD8900R远场分析仪可以采用硅探测器（工作波长320-1100nm）或者铟镓砷探测器（工作波长800-1700nm），有标准的2毫米宽度的入射光狭缝，对于大光源，像发光二极管或激光二极管阵列等，可以采用10毫米宽度的入射光狭缝。是激光二极管、光纤等产品研发、工业生产及应用中的标准测量工具。
　　LD8900R用于测量模场直径（MFD）、数值孔径（NA）、漫透射体的散射图样、光波导、光路中元件的影响（比如棱镜，滤波器，波导）、带尾纤的光源、单模和多模光纤；用于优化激光二极管、自聚焦透镜的准直和光纤、腔体、透镜、探测器、波导阵列、色散补偿器件、波分复用和解复用以及其它光学器件的能量耦合。

近场分析仪
基于相机的近场分析仪
NanoScan近场分析仪


　

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