产品名称: NanaModeScan M2测量仪 产品介绍: ModeScan兼备NanoScan灵活性和测量速度，并装备专门的M2测量硬件与软件，可提供ISO11146或Rayleigh方法的自动M2测量。 使用了NanoScan扫描头，ModeScan的测量范围和测量速度大大提高，使用任何一款NanoScan扫描头均可测量CW激光器和kHz脉冲激光器，可以覆盖从UV到FIR的整个波长范围，CW激光器的M2测量只需约20秒钟的时间。 对于测试中的激光光源，可以用200mm和400mm的透镜产生合适的人工光束腰。为了便于对准，在ModeScan的光轴上有一块入口模板，还有一个精密的对准台用于水平和垂直调整。 ISO方法可以提供ISO 11146参数： 衍射极限倍数：M2 光束传播因数：K 光束腰大小：d0 光束腰位置：Z0 发散角：θ 瑞利范围：Zr
NanoScan 扫描式高精度激光光束分析仪 高分辨率激光光束质量分析仪 高功率激光光束质量分析仪 NanoModeScan M2测量仪 Rayleigh Range Fixture BeamScan 扫描式激光光束分析仪 BeamScanXYVLAGE光束分析仪 BeamScanXYPREC光束分析仪 BeamScanXYM光束分析仪 GRIN光纤准直仪(Model 55) BeamProFiler 激光光束分析仪 BeamProfiler2320光束分析仪 BeamProfiler2321光束分析仪 ATP-SM可变衰减器 动态光束分析仪 滚筒分析仪 FO 8350-光纤环形通量测试仪 UView-2322光束分析仪 PH 7290-ElectroPhysics ModeScan Model 1780 FireWire BeamPro USBeamPro激光光束质量分析仪 ATP-K可调衰减器和高功率衰减器 远场轮廓仪/角度辐射计(红外) LED测量仪 LD8900远场分析仪 LD8900SA单轴远场分析仪 LD8900R远场分析仪 LD8900HDR高动态远场分析仪 FO8350光纤环形通量分析仪
近场分析仪 基于相机的近场分析仪 NanoScan近场分析仪
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