产品名称：
    BeamScanXYPREC光束分析仪
产品介绍：
    BeamScanXYPREC光束分析仪适用于测量极小光束 —— 类似几微米直径大小的光束的仪器。
    在如此狭小的范围内，控制测量平面位置精度的能力就变得十分重要了。因为光束衍射极限的景深只是一个概略的数字 . 举例来说，光束直径的平方， 6um 光束，得到的景深只有 36um 。因此，如果不能精确控制测量平面，就不可能准确的测量到光腰，就会导致测量失误。 Photon 对最合适的路径进行了综合测试，用来提高测量平面位置的精度。同时为了达到最大的精确度，仪器的误差已经被减少到了最小。测试的最终结果是：探头的测量平面可以被控制到最小 (3.8um 或 7um) 。然后仪器又经过了坐标测量仪 (CMM) 的测试检验 . 其中 CMM 的精度为 2.5um. 因此 , 可测平面数据为 ±5 μm 或者可选为 ±3 μm
附：不锈钢扫描头
    通过对许多材料的试验， 我们发现由于不锈钢有非常可靠的机械稳定性，是最适合进行加工的材料。因此，我们对 BeamScan进行了第一次改进，每个 BeamScan 高精度探头的成分中都加入了经过精密加工的 ASTM303 不锈钢。 不锈钢扫描头的出现优化了生产过程 , 缩短了生产上产生的误差。
光波范围 :
    XYPREC : 400 nm - 1000 nm
    XYGEPREC : 700 nm - 1800 nm
可测光束尺寸 :
   4 μm-[aperture]
   Depending on slit size and power
规格:

光波范围:
  • XYPREC : 400 nm - 1000 nm
  • XYGEPREC : 700 nm - 1800 nm

光波取样:
  • 0.14, 1.4 or 14 μm
  • Automatic or Manual setting

取样更新速度
  • 10 Hz

狭缝尺寸:
  • 1.8 μm (standard)
  • 1, 5 or 25 μm (optional)

可测光束尺寸:
  • 4 μm-[aperture]
  • Depending on slit size and power

测量平面:
  • Controlled to 7 μm (absolute)
  • Optional: 3.8 μm (absolute)

可测平面数据:

  • X, measured and reported to ±5 μm
  • Optional: ± 3 μm

材料构成:
  • ASTM 303 Stainless Steel

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扫描式高精度激光光束分析仪
 高分辨率激光光束质量分析仪
高功率激光光束质量分析仪
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Rayleigh Range Fixture

BeamScan
扫描式激光光束分析仪
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BeamScanXYPREC光束分析仪
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动态光束分析仪
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FO8350光纤环形通量分析仪

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基于相机的近场分析仪
NanoScan近场分析仪


　

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