产品名称:

   
GRIN光纤准直仪(Model 55)
产品介绍:
   
Photon 的 BeamScan 用于实验室和生产环境,可以加速包含准直透镜的光纤集成部件的制作 (Grin 透镜或衍射光要素 ) 并提高了每个设备的坚固性。
准直透镜中的光束宽度是先在 10 -50mm 范围中进行测量,然后在接近准直透镜的位置再次测量得到的。探头沿光轴在 10-50mm 范围内调整出有利的光束宽度 . 当光束尺寸变化在这个范围内达到最小时 , 光束就已经准直并可以被锁定。
    将光束经过一段固定的距离放到 GRIN 透镜前,用户就可以测量到单光束宽度。当器件相似的时候,就没有必要逐个在 GRIN 的出口平面和 GRIN 前 10 或 50mm 的点进行调节了。 GRIN 透镜通常是倾斜的,用来防止反射光进入光纤 . 两个透镜斜面可旋转且相互匹配。光束扫描仪对于测量光束位置起到很大帮助。它可以确保光束在整个测量过程中被精确准直。光束达到准直后,光纤就可以被封装起来了。
    准直仪软件可以方便并清楚的看到光纤的状态。当 1/e 2 的光束宽度显示出来的同时,另一窗口会显示通过光束合适角度采集的数据,第三个窗口会动态显示出光束的位置。对高精度瞄准角度光纤而言 , 这是一个非常实用和重要的功能。
应用范围 :
    制作光隔离器,环行器,衰减器,光开关,光波分复用器,传感器等多种光学器件的基础器件

产品技术参数:

XYGET
近红外线
可见光谱测量
波长 900-1800 nm 350-900 nm
Beam Width accuracy unit to unit光束宽度精确度 ± 2% ± 2%
光束宽度范围* 25 - 7000μm 25 - 7000μm
光束位置 ±2μm ±2μm
狭缝尺寸 5 x 8500μm 5 x 8500μm
更新频率 up to 10 Hz up to 10 Hz
输入功率 0.1 to 10s of mW 0.1 to 10s of mW

NanoScan
扫描式高精度激光光束分析仪
高分辨率激光光束质量分析仪
高功率激光光束质量分析仪
NanoModeScan M2测量仪
Rayleigh Range Fixture

BeamScan
扫描式激光光束分析仪

BeamScanXYVLAGE光束分析仪
BeamScanXYPREC光束分析仪
BeamScanXYM光束分析仪
GRIN光纤准直仪(Model 55)

BeamProFiler
激光光束分析仪
BeamProfiler2320光束分析仪
BeamProfiler2321光束分析仪
ATP-SM可变衰减器
动态光束分析仪
滚筒分析仪
FO 8350-光纤环形通量测试仪
UView-2322光束分析仪
PH 7290-ElectroPhysics
ModeScan Model 1780
FireWire BeamPro
USBeamPro激光光束质量分析仪
ATP-K可调衰减器和高功率衰减器

远场轮廓仪/角度辐射计(红外)
LED测量仪
LD8900远场分析仪
LD8900SA单轴远场分析仪
LD8900R远场分析仪
LD8900HDR高动态远场分析仪
FO8350光纤环形通量分析仪

近场分析仪
基于相机的近场分析仪
NanoScan近场分析仪


 

其它代理厂商



 

详细技术参数及说明书点击此处右键‘另存为'下载


 
版权所有© 北京高光科技有限公司
地址:北京海淀区长春桥路11号亿城大厦C1座(4号楼)303室
邮编:100089;电话:010-58816816/7;传真:010-58816819;E-mail: cl@clight.com.cn