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偏振相关损耗测量仪 PDL-201

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产品简介:
        采用专利最大最小搜索技术,通用光电公司的PDL测量仪能在30 ms内,同时测量待测器件的偏振相关损耗(PDL),插入损耗(IL)和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同,PolaCHEXTM有条理地搜索最大和最小透过率,确保了具有较高和较低PDL值的器件在任何时刻的测量精度。因此可获得最精确的PDL值。PolaCHEX覆盖了较宽的波长范围:1260~1650 nm,无需波长校准,比基于Mueller矩阵方法测得的PDL值更准确。它带有USB、以太网、GPIB和RS-232接口,用于电脑控制。它能快速、精确测量与波长相关的无源器件的特性,尤其适用于制造或实验室中DWDM、光纤传感元件。与PDL-101相比,PDL-201具有较快的测量速度,较大的测量动态范围,更明亮的显示屏,以及用于集成的附加模拟输出端口。


产品特性:

产品应用:

30 ms的测量速度

PDL与波长测量

较宽的波长范围

DWDM器件特性测试

PDL测量精度高

光纤传感元件特性测试

PDL模拟输出


高亮的OLED屏



规格参数

工作波长1260 - 1620 nm
分辨率

0.01 dB

偏振相关损耗(PDL)精度

± (0.01 + 5% of PDL) (dB)

PDL重复性± (0.005 + 2% of PDL) (dB))

PDL动态范围

0 - 45 dB

插入损耗(IL)精度± (0.01 + 5% of IL) (dB)
IL重复性± (0.005 dB + 2% of IL) (dB)
IL动态范围
0 - 45 dB
光功率范围(@DUT输出端)
-40 ~ +6 dBm
光功率精度±0.25 dB
测量速度30 ms/次(输入功率> -30 dBm)
接头类型

光源和DUT输入:APC

DUT输出:自由空间适配器




地址:北京市海淀区双清路3号33036室
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