产品名称：
    F20-XT 经济型高级膜厚测量系统
产品简介：
    是在F20-NIR的基础上专为测试厚膜而设计的，波长范围从1200nm到1450nm，在NIR波长分辨率为0.5nm，薄膜厚度的测量范围是： 0.2～450um（低光学参数薄膜），0.1～160um（Si及其它半导体），精度都好于0.4%。
应用领域:
    微机电系统MEMS；
    绝缘体上硅SOI；
    倒装芯片Flip Chips；
    厚聚合物；