产品名称: F20 便携式膜厚测量系统 产品简介: 有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。薄膜厚度的测量范围是: 3nm~25um,精度为0.1nm。 产品特性: 操作简单、使用方便; 测量快速、准确; 体积小、重量轻; 价格便宜; 产品应用: 半导体行业:光阻、氧化物、氮化物; LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides; 光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片;
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Filmetrics薄膜测量系统 F10-AR 增透膜及硬膜厚度分析测量系统
F10-VC 真空镀膜反射率与透射率同步测量系统
F20 便携式膜厚测量系统
F20-HC 经济型高级膜厚测量系统
F20-XT 经济型高级膜厚测量系统
F30 原位测量系统
F40 小物体膜厚测量系统
F42 微观区域薄膜厚度分布测量仪
可选附件
Filmetrics半导体测量系统
F50 膜厚分布自动测量系统
F80 经济型膜厚自动测量系统
F80-b BOLTS膜厚综合测量系统
F80-c 全自动Cassette-to-Cassette膜厚测量系统