产品名称：
    F40小物体膜厚测量系统
产品简介：
    可安装在任何显微镜外，有三种不同波长选择(波长范围从可见光400nm至近红外1700nm)。测量的薄膜厚度范围从20nm到20um，精度为0.1nm。可提供最小10um光点(50倍放大倍数)来测量微小样品。
产品特性：
    操作简单、使用方便；
    测量快速、准确；
    体积小、重量轻；
    价格便宜
产品应用：
    半导体行业:光阻、氧化物、氮化物；
    LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides；
    光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片；