产品名称：
    F42 微观区域薄膜厚度分布测量仪
产品简介：
    Filmetrics F42系统利用光谱反射原理，可以轻松测量薄膜厚度分布。独立的桌面设备组装便捷快速，可以测量不同基底上的多种薄膜。

快速捕捉特征区域：

    集成CCD相机，实时视频功能可以轻松找到测量位置，用户可以轻松发现并突出样品上的感兴趣区域，一旦视场内出现这些特征区域，在其周围画一个边框就可以进行分析。

光点直径可达像素宽度大小：

    在屏幕的每一个像素上进行膜厚测量，可以产生最小3微米的光点直径，这时甚至可以在最狭窄的通道和腔中进行测量。

厚度分布测量：

    F42系统的厚度分布测量功能可以测量特征区域薄膜厚度的均匀性。只需点击一下按键，数百万个独立的厚度值会被计算出并显示在梯度图上，可以轻松读数。当通知用户超范围厚度测量的时候，平均厚度和其它统计结果就会被报告。使用拟合标准时，符合标准的特征区域的厚度分布就可以被测量出来。

应用：

    印制电路板、半导体制作、液晶显示