产品名称：
    F50 膜厚分布自动测量系统
产品简介：
    F50配备全自动R-θ和X-Y工作台，有200mm和300mm两种型号可供选择，客户也可提供所需尺寸。测量速率高达2点/秒，通过快速扫描功能，可取得整片样品的厚度分布情况以及光学参数（n、k），有五种不同波长选择(波长范围从紫外220nm至近红外1700nm)。测量的薄膜厚度范围从 10nm到450um，最高精度为0.1nm。
主要特点：
    操作简单、使用方便；
    测量快速、准确；
    体积小、重量轻；
    价格便宜；
应用领域:
    半导体行业:光阻、氧化物、氮化物；
     LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides；
     光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片；