产品名称：
    多用PDL测量仪
产品简介：
    美国通用光电公司生产的多用PDL测量仪利用了专利功率搜索技术（与 TIA/EIA-455-198 相匹配），该公司的此仪器可以在很短的时间内测量装置的偏振相关损耗（PDL）、插入损耗（IL）、光功率和偏振度（DOP）。它的测量原理与利用扰偏监测输出功率变化的测量方法不同，利用了该公司专利搜索最大最小值的方法。而且此仪器对高低的PDL和SOP都能有精确的输出。它覆盖了1260～1650nm范围内的波段。本仪器内设RS-232端口、USB 、和提供电脑控制的网络接口，是精确、快速测量无源器件、DWDM 器件、生产、和实验室的理想仪器。
产品特性：
    确定性的偏振扫描、快速测量、无需校准、高精度和可靠性、通过RS-232端口远程控制。
产品应用：
    PDL测量、插入损耗测量、DOP测量、PDL/DOP监测。