产品简介：
OEwaves高性能相位噪声测量仪采用微波光子学技术，能自动快速测量振荡器的超低相位噪声，而且可以产生指定波段上任意频率的相位噪声的光谱密度图。
产品特性：
超低绝对相位噪声/抖动测量 无需低噪声参考源
快速实时测量 无需降频变频器
全自动测量 友好的用户界面
互相关零差性能 基于PC机操作
相位噪声图
版权所有©北京高光科技有限公司 2005-2009 clight.com.cn all rights reserved 京ICP证05068769
地址: 北京海淀区长春桥路11号亿城大厦C1座(4号楼)303室 电话: 010-58816816/7 传真: 010-58816819